JIS H7201:2007 pdfダウンロード

JIS H7201:2007 pdfダウンロード。水素吸蔵合金の圧力− 組成等温線（ＰＣＴ線）の測定方法 Method for measurement of pressure-composition-temperature (PCT) relations of hydrogen absorbing alloys
1 適用範囲
この規格は，水素吸蔵合金の圧力−組成等温線（以下，“PCT線”という。）をジーベルツ法で求めるための一般的な測定方法について規定する。 なお，この規格を適用する測定対象温度範囲は，173 K〜573 K，測定圧力範囲は，1 kPa〜5 MPaとする。
2 引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS H 7003 水素吸蔵合金用語
JIS K 0512 水素
JIS Z 8401 数値の丸め方
3 用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS H 7003による。
4 測定装置
4.1 測定装置の構成 測定装置は，測定系，試料系，ガス供給・排気系及び温度制御用の機器並びに温度測定用の機器で構成する。ガスと直接接触する機器は，測定中に印可するガスの最高使用圧力に耐えるに十分な強度があり，水素と反応せず，水素を透過しない材料で構成し，室温及び測定対象温度において，水素加圧状態及び真空状態での漏れがあってはならない。PCT線測定装置の基本構成の例を図1に示す。 測定装置を構成する機器は，次による。
a) 測定系の機器 測定系の機器は，蓄圧容器（B），圧力計（P），バルブ（V1，V2，V3，V4）及び配管で構成する。各機器を結ぶ配管は，できるだけ短くするとともに，測定系全体が一定で均一な温度に保持できるように設計する。
b) 試料系の機器 試料系の機器は，試料容器（D）及び配管で構成する。試料容器（D）とバルブ（V4）とをつなぐ配管は，恒温槽（C）から外に出た部分の容積ができるだけ小さくなるように設計する。試料容器（D）のガス出入口には圧損の小さい孔径1 μm程度のフィルタ（F）を取り付け，配管への試料の飛散を防ぐ。恒温槽（C）の温度が測定系に影響しないように，試料系−測定系間を断熱する。
c) ガス供給・排気系の機器 ガス供給・排気系の機器は，真空計（VG），並びに不活性ガス供給機器（I），水素供給機器（H）及び真空排気機器（VE）で構成する。真空計（VG）は，できるだけバルブ（V3）の近くに設置する。
d) 温度制御用及び温度測定用の機器 温度制御用及び温度測定用の機器は，恒温槽（C）及び温度計（T1，T2）で構成する。温度計（T1）は，蓄圧容器（B）の近傍に取り付け，温度計（T2）は，恒温槽（C）内に取り付ける。
4.2 機器の精度 使用する機器の精度は，次による。
− 恒温槽温度保持精度：±0.5 K
− 温度測定精度 ：±0.5 K
− 圧力測定精度 ：最高使用圧力で有効数字4けた以上あるものを使用する。
4.3 ガスの純度 測定に使用する水素の純度は，JIS K 0512に規定する3級又はそれと同等以上の品質とする。また，不活性ガス（アルゴン又はヘリウム）は工業用のものを用いる。
4.4 測定系容積及び空の試料系容積の算出
4.4.1 容積の基準となる容器の容積の算出 容積の基準となる容器（バルブ付き）の質量を，精密な化学はかりを用いてはかる。次に，この容器に蒸留水を完全に満たしてバルブを閉じ，その質量をはかる。水を満たした容器の質量から空の容器の質量を差し引いた質量を水の比重で除して，水の体積を有効数字3けた以上で求め，その体積を容積の基準となる容器の容積［vs（cm3）］とする。
4.4.2 測定系容積の算出 測定系容積［vd（cm3）］の算出は，次の手順によって行う。 なお，手順は室温において行う。また，圧力は，有効数字3けた以上で測定する。