JIS C5871:1992 pdfダウンロード

JIS C5871:1992 pdfダウンロード。干渉フィルタ試験方法 Test methods of interference filters
1 適用範囲
この規格は，空間ビーム光を入出射し，主に光伝送に使用する波長分離を目的とした干渉フィルタの試験方法について規定する。
2 引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0025 環境試験方法（電気・電子）温度変化試験方法
JIS C 5860 空間ビーム光用受動部品通則
JIS C 5870 干渉フィルタ通則
JIS C 5900 光伝送用受動部品通則 JIS C 5901 光伝送用受動部品試験方法
JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−通則 JIS C 60068-2-78 環境試験方法−電気・電子−第2-78部：高温高湿（定常）試験方法
JIS Z 8120 光学用語 3 用語及び定義 この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 5860，JIS C 5870，JIS C 5900及びJIS C 5901によるほか，次による。
3.1 広帯域光源（Broadband light source） 使用波長範囲で可及的に平たんなスペクトルをもち，出力安定度が必要十分な光源。
3.2 波長可変レーザ（Tunable laser） 発振中心波長が可変なレーザ。
3.3 偏光子（Polarizer） 自然光から特定の偏光を取り出すための光学素子（JIS Z 8120の02.02.44参照）。
3.4 四分の一波長板（Quarter-wave plate） 互いに垂直な方向に振動する偏光の光路差を1/4波長変化させる位相板（JIS Z 8120の02.02.65参照）。
.5 偏光解消子（Depolarizer） 偏光を自然光に変えるための光学素子。
3.6 光スペクトラムアナライザ（Optical spectrum analyzer） 光ファイバコネクタ用の入力端子をもち，入力端子に入射した光のスペクトルの波長（周波数）に対する時間平均された強度分布を測定し，画面に表示する機能をもつ測定器。
3.7 スペクトル分解能（Spectrum resolution） 光を単色光成分に分解する分解能。輝線スペクトルを測定したとき，表示されるスペクトル半値幅（ピーク値より−3 dB低い光パワーをもつ波長間隔）をスペクトル分解能とする。
4 標準試験状態
4.1 標準状態 試験及び測定は，その他の規定がない場合，JIS C 60068-1の5.3［測定及び試験のための標準大気条件（標準状態）］に規定の標準状態（温度15〜35 ℃，相対湿度25〜75 %，気圧86〜106 kPa）の下で行う。ただし，この標準状態での測定値によって判定に疑義を生じた場合，又は特に要求された場合は，4.3による。また，換算を個別に規定した場合の基準状態は，4.2による。 さらに，標準状態で測定することが困難な場合は，判定に疑義を生じない場合，標準状態以外の状態で試験及び測定を行ってもよい。 なお，試験及び測定を行った状態は，試験成績書に明示する。干渉フィルタの光学特性は，吸湿によって時間の経過とともに変化するので，開封後の放置時間も併せて明示する。
4.2 基準状態 基準状態は，JIS C 60068-1の5.1［標準基準大気条件（基準状態）］に規定の状態（温度20 ℃，気圧101.3 kPa）とする。ただし，温度だけをもって基準状態としてもよい。
4.3 判定状態 判定状態は，JIS C 60068-1の5.2［判定測定，及び判定試験のための標準大気条件（判定状態）］に規定の状態（温度20±2 ℃，相対湿度60〜70 %，気圧86〜106 kPa）とする。
4.4 試験場所の状態 試験場所は，ごみ，ほこりなどがないよう，十分清潔にしておく。
5 外観及び構造 JIS C 5901の5.（外観及び構造）の規定による。