JIS C0098:2002 pdfダウンロード

JIS C0098:2002 pdfダウンロード。環境試験方法―電気・電子― 砂じん(塵)試験 Environmental testing―Electrotechnical products―Dust and sand test
1. 概要 この概要ではこの規格に規定するじん(塵)あい(埃)試験の全体構成を説明している。試験の全体構成と各試験の特徴の概要を図1及び表1に示す。JIS C 0920の粉じん試験は，ここで提案する方法La2と同等であることに注意されたい。附属書A参照。
1.1 適用範囲及び目的
この規格は，空気中に浮遊している粉じんと砂が電気・電子製品に及ぼす影響を調べるための試験方法を規定する。 この規格で規定する試験方法は，エアフィルタの試験に適用する意図はない。方法Lc2だけが高速(100 m/sを超える)の砂による侵食効果を模擬するのに適した方法である。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT(一致している)，MOD(修正している)，NEQ(同等でない)とする。
1.2 試験Lの種類 粉じんと砂の試験は，次の3種類に分けられる。
La：研削性のない細かい粉じんによる試験。
この試験の第一の目的は，供試品の密閉性を調査することである。供試品をタルク粉末又は同等の粉じんにさらす。供試品の内部と外部の圧力差を生じることになる温度サイクルの効果を再現する。
Lb：降じん試験。
この試験は，室内などの囲いのある場所での影響を調べるのが目的である。供試品を粉じんが小量ずつ間欠的に吹き出して自然降下するように作られる低濃度の粉じん環境にさらす。
Lc：粉じん吹き付け試験。
この試験は，屋外や自動車の走る場所を想定した状況における密閉性と侵食の影響を調べるのが目的である。供試品をある一定量の粉じん，砂又はそれらを混合したものを含んだ乱流又は層流の空気の流れにさらす。