JIS A1415:2013 pdfダウンロード。高分子系建築材料の実験室光源による暴露試験方法 Methods of exposure to laboratory light sources for polymeric material of buildings 5 試験条件 5.1 一般条件 この規格で規定する試験条件以外の共通事項は，JIS K 7350-1による。 5.2 試験装置の設置場所 試験装置の設置場所は，JIS Z 8703に規定する常温・常湿の状態とする。 注記 ランプの点灯によってオゾンが発生するおそれのある装置については，換気装置を設けることが望ましい。 5.3 計測器の校正 使用する計測器は，試験機関などで校正されたものとする。 5.4 ブラックパネル温度計及びブラックスタンダード温度計 ブラックパネル温度計及びブラックスタンダード温度計は，JIS K 7350-1に規定するものを用いる。ただし，ブラックスタンダード温度計は，金属板の厚さが0.5 mmのものとする。 注記 ブラックパネル，ブラックスタンダード温度計は，約3か月に1回の頻度で比較用温度計を基準として指示温度の誤差を確認する。光源に向けて並置し，両者の指示温度を読み取ったとき，校正用の指示温度に対して測定用の指示は±2 ℃とすることが望ましい。 5.5 放射計 放射計は，JIS K 7350-1に規定するものを用いる。 注記 放射計によって，常時放射露光量のモニタを行っていない装置では，放射照度及び放射露光量の校正を行う周期として，3か月に1回程度行うことが望ましい。 5.6 試験片 試験片は，次による。 a) 試験片の形状及び寸法 試験片の形状及び寸法は，試験片ホルダに確実に取り付けられる形状・寸法とする。試験片を製品から採取するときは，端部及び周辺部からの採取は避ける。 b) 試験片の状態調節 試験片の状態調節は，試験前後においての試験の目的に即するようにJIS K 7100によって行う。 c) 試験片の数量 試験片の数量は，暴露ステージごとに3個以上とする。ただし，暴露後に引張強さなどの物性を測定する場合は，必要な数量を追加する。 d) 比較試験片の取扱い 比較試験片の取扱いは，受渡当事者間の協定によることとし，必要に応じて比較試験片を同時に，同一条件で試験を行う。 e) 保存試験片の取扱い 保存試験片は，JIS K 7100に規定する状態の暗室，又は光の入らない容器内に保存し，光線，温度，湿度，ほこり，ごみなどの影響を避ける。 5.7 暴露ステージ 暴露ステージは，材料が主として使用される地域，部位，暴露を受ける程度，交換補修の難易などを考慮して，時間（h），又は放射露光量（J/m2）及び／又は分光放射露光量［J/(m2･nm)］の管理によって行う。 なお，受渡当事者間の協定によって定めてもよい。 5.8 水質 水噴霧に使用する水は，蒸留水又は脱イオン水（電気伝導率5 μS/cm以下）で，全固形分の含有が1 μg/g未満であり，試験片に汚れ及び付着物を残さないものとする。 注記1 シリカのレベルは0.2 μg/g未満が望ましい。電気伝導率，全固形分及びシリカレベルを測定する場合は，JIS K 0101に規定する測定方法を参照する。 注記2 噴霧圧力0.1 MPaに対してノズル1個当たりで0.53±0.10 L/min（ノズルの総数4個の場合は2.1±0.10 L/min）又は0.080±0.011 L/min（ノズルの総数2個の場合は0.16±0.010 L/min）のものを使用するのがよい。ただし，受渡当事者間の協定によってこれを変えてもよい。 5.9 放射照度の均一性 全ての試験片を均一に照射するため，定期的に試験片を配置替えする。配置替えの例を図1に示す。