JIS C0025:1988 pdfダウンロード。環境試験方法（電気・電子）温度変化試験方法 Basic environmental testing procedures Part 2:Tests Test N:Change of temperature この規格の廃止理由、切替規格 JIS C 0025:1988 廃止 移動先 規格概要 この規格 C0025は、温度変化または温度変化の繰返しが，部品・機器またはその他の製品に与える影響を確めるための試験方法について規定。 1.赭言及U逾用第波规格法，温度变化又注温度銮化D)躲返匕o部品，禨器又芒O)他D裂品（以下，供试品匕v5。〉汇与之石影警奁碓加的石t奶D武’方法化\て规定寸石。 温度变化又注温度变化D噪返LD影警注，次D事项亿上○て决主石。 (1)低温及J高温て弑骏温度 (2)供弑品丞低温及高温忆a持a九てv石畤間(3低温匕高温匕D間D温度变化D割合 (4)武唉廿〈夕l数 (5)供弑品D内部又注外部一D熟位逵D量 D歉仕,供就品亳单k低温又忙高温记仁放世丈石二匕忆上石影署亳碓办如为t战0)电Dて住なv’。Lt加一て，芒礼60影警G确力冶石t战法，低温武歉JIS C 0020[璨境试骏方法（鼋氦·电子）低温(耐寒性）武酸方法〕又注高温武歌JIS C 0021〔璨境武唉方法（雹氮·电子）高温（耐熟性)武酸方法]G_用寸石二上办望京Lv。