JIS C0038:1997 pdfダウンロード。環境試験方法−電気・電子−発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温／振動（正弦波）複合試験Basic environmental testing procedures Part 2 : Tests Tests Z/AFc : Combined cold/vibration (sinusoidal) tests for both heat-dissipating and non-heat-dissipating specimens 1.目的及び適用範囲 この規格は，電気・電子製品に適用し，振動及び低温が複合された条件のもとで，発熱部品及び非発熱部品，装置又は他の製品の使用，保存及び輸送に対する適応性を決めるための，標準的試験方法を規定したものである。 2.概要 この試験は，JIS C 0020 及び JIS C 0040 を複合したものである。備考 JIS C 0020（試験 Ab 及び Ad）では，温度変化の割合は，温度条件の加熱及び冷却段階中，5分間を超える時間の平均で，1K/min を超えてはならない。温度変化の最大割合 1K/min は，熱衝撃に耐えることができる供試品には適用しない。すなわち，このような供試品は，JIS C 0020（試験 Aa）を適用する供試品であり，また，JIS C 0025（試験 Na 又は Nc）の温度急変に耐えることができるものである。このような供試品に対しては，JIS C 0020（試験 Aa）に規定した条件を維持することができる槽を使用してもよい。 JIS C 0020（試験 Aa）及び JIS C 0040 に規定されている試験を行ったことがなく，結果の記録がない場合は，最初に試験室の温度条件で振動試験を行い，次に温度安定に達するまで低温にさらし，その後振動及び低温が複合された条件にさらす。試験のプロファイルは，図 1 及び図 2 に示す。振動試験は，次の内の一つ以上とする。 a)掃引耐久性試験 b)振動応答検査及び振動応答検査で求めたそれぞれの振動数における耐久性試験 c)指定振動数耐久性試験 3.試験装置 3.1試験槽の条件 3.1.1非発熱供試品の試験 試験槽は，JIS C 0020（試験 Aa 又は試験 Ab）に規定された要求事項を適切に満足しなければならない（2.の備考参照）。 3.1.2発熱供試品の試験 温度監視点の選択及び監視温度の決定は，次のどれかの試験槽内又は試験室内で行うことができる。 a)通常は強制空気循環されていて，低温で“自由空間状態”の影響をシミュレートでき，さらに，JIS C 0020（試験 Ad）の 25.（試験装置）に規定した要求事項を満足できる試験槽，又は， b)供試品が，日射又はすき間風のようなかく乱要因の影響を受けない試験槽又は試験室（5.1.2 参照）。試験槽は，通常は強制空気循環されていて，JIS C 0020（試験 Ad）の 25.（試験装置）及び JIS C 0020（試験 Ab）の 14.（試験装置）に規定した要求事項を適切に満足しなければならない（2.の備考参照）。 3.2振動システムに対する要求事項3.2.1取付方法 JIS C 0040...