JIS C2170:2004 pdfダウンロード。静電気電荷蓄積を防止する 固体平面材料の抵抗及び抵抗率試験方法 Electrostatics – Methods of test for determining the resistance and resistivity of solid planar materials used to avoid electrostatic charge accumulation 1. 適用範囲 この規格は，静電気電荷蓄積を防止するための104〜1012Ωの範囲の固体平面材料の電気的抵抗及び抵抗率の試験方法について規定する。 これは，既存のISO／IEC規格及びその他の刊行されている情報を考慮し，適切な方法に関する推奨及び指針を与える。 備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。 なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide21に基づき，IDT（一致している），MOD（修正している），NEQ（同等でない）とする。 IEC 61340-2-3:2000，Electrostatics−Part 2-3 : Methods of test for determining the resistance and resistivity of solid planar materials used to avoid electrostatic charge accumulation (IDT) 2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。 IEC 60093:1980 Methods of test for volume resistivity and surface resistivity of solid eletrical insulating materials IEC 60167:1964 Methods of test for the determination of insulation resistance of solid insulating materials IEC 60212:1971 Standard conditions for use prior to and...