JIS R7651:2007 pdfダウンロード。炭素材料の格子定数及び結晶子の大きさ測定方法 Measurement of lattice parameters and crystallite sizes of carbon materials 1 適用範囲 この規格は， X 線回折装置を用いて炭素材料粉末サンプルの X 線回折図形を計測し， 得られた回折ピー クプロファイルを解析することによって炭素材料の結晶構造パラメータである格子定数及び結晶子の大き さの測定を行う場合の一般的事項について規定する。 2 引用規格 次に掲げる規格は， この規格に引用されることによって， この規格の規定の一部を構成する。 この引用 規格は， その最新版（ 追補を含む。 ） を適用する。 JIS K 0131 X 線回折分析通則 3 用語及び定義 この規格で用いる主な用語及び定義は， JIS K 0131 によるほか， 次による。 3.1 回折線（ diffraction line） X 線回折装置において結晶格子によるブラッグ(Bragg)回折現象によって検出された X 線。 ある任意の結 晶においてミラー(Miller)指数 hkl によって表現される結晶面の面間隔に起因する回折を hkl 回折線という。 3.2 回折図形（ diffraction pattern） Bragg 回折現象を検出する X 線回折装置を用いて得られる図形。 縦軸： 回折強度と横軸： ゴニオメータ の回折角度（ 2 θ ） からなるグラフチャート。 粉末試料について測定された回折図形の場合， 粉末図形とも 呼ばれる。 3.3 回折ピークプロファイル（ diffraction peak profile） 回折図形における回折ピークの形状。 回折線は， 実際には器械的誤差と結晶子の大きさ， 構造ひずみな どの影響とから， ある広がりをもったピークとして出現する。 この回折ピークのプロファイルを解析する ことによって， 結晶構造に対するパラメータ（ 格子定数及び結晶子の大きさ） が評価できる。 3.4 プロファイルフィ ッティ ング（...