JIS Z4520:2007 pdfダウンロード。ゲルマニウムγ線検出器の試験方法 Test procedures for germanium gamma-ray detectors 1. 適用範囲 この規格は，ゲルマニウムγ線検出器の製造業者及び使用者にとって重要な性能及び特性の試験方法について規定する。主として高分解能γ線スペクトロメトリーに用いるゲルマニウムγ線検出器の試験方法について規定する。 備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。 なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD（修正している），NEQ（同等でない）とする。 IEC 60973 : 1989，Test procedures for germanium gamma-ray detectors (MOD) 2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。 JIS Z 4001 原子力用語 JIS Z 8103 計測用語 IEC 60333 : 1993，Nuclear instrumentation−Semiconductor charged-particle detectors−Test procedures IEC 60759 : 1983，Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers 3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，JIS Z 4001及びJIS Z 8103によるほか，次による。 a) イオン注入 (Ion implantation) 加速したイオンビームを結晶表面に衝突させ，結晶中にイオンを注入する工程。 b) 半値幅 (Full width at half maximum, FWHM) ピークの最高値の1/2における分布の幅。正規分布では標準偏差σの2.35倍に等しい。 c) 1/10値幅 (Full width at 0.1 maximum, FW0.1M) ピークの最高値の1/10における分布の幅。FW1/10Mともいう。 d) 1/50値幅 (Full width at 0.02 maximum, FW0.02M) ピークの最高値の1/50における分布の幅。FW1/50Mともいう。 e) 高純度ゲルマニウムγ線検出器 (High-purity germanium...